Porosimetri Intrusi Merkuri
Porosimetri intrusi merkuri mengukur distribusi ukuran pori, volume pori total, dan porositas dengan memaksa merkuri masuk ke bahan berpori di bawah tekanan yang meningkat secara terkendali.
Advanced instrumentationElipsometri
Elipsometri mengukur perubahan keadaan polarisasi cahaya yang dipantulkan untuk menentukan ketebalan film tipis, konstanta optik, dan sifat bahan dengan presisi sub-nanometer.
Advanced instrumentationMikroskopi Pemindaian Laser Konfokal
Mikroskopi konfokal menggunakan bukaan lubang jarum untuk menghilangkan cahaya di luar fokus, memungkinkan pemotongan optik spesimen tebal dengan resolusi tinggi dan rekonstruksi tiga dimensi.
Advanced instrumentationAnalisis Mekanik Dinamis
Analisis mekanik dinamis mengukur sifat viskoelastik bahan dengan menerapkan tegangan osilasi dan mencatat regangan yang dihasilkan sebagai fungsi suhu, frekuensi, atau waktu.
Advanced instrumentationAnalisis Ukuran Partikel
Analisis ukuran partikel mengukur distribusi ukuran bahan partikulat menggunakan teknik termasuk difraksi laser, hamburan cahaya dinamis, pengayakan, dan sedimentasi.
Advanced instrumentationAnalisis Luas Permukaan BET
Analisis luas permukaan BET mengukur luas permukaan spesifik bahan melalui adsorpsi multilayer nitrogen pada suhu kriogenik, memberikan data penting untuk katalis, adsorben, dan nanomaterial.
Advanced instrumentationSpektroskopi Dikroisme Melingkar
Spektroskopi dikroisme melingkar mengukur perbedaan serapan cahaya terpolarisasi melingkar kiri dan kanan, mengungkapkan kandungan struktur sekunder dan perubahan konformasi dalam biomolekul.
Advanced instrumentationKalorimetri Titrasi Isotermal (ITC)
ITC secara langsung mengukur panas yang dilepaskan atau diserap selama pengikatan biomolekuler, memberikan konstanta kesetimbangan, stoikiometri, entalpi, dan entropi dalam satu eksperimen.
Advanced instrumentationSpektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS)
XPS mengukur komposisi unsur dan keadaan kimia permukaan dengan menganalisis energi kinetik fotoelektron yang dipancarkan di bawah iradiasi sinar-X.
Advanced instrumentation
Menampilkan 1 hingga 12 dari 68 hasil