压汞法通过在受控递增压力下将汞压入多孔材料，测量孔径分布、总孔体积和孔隙率。
椭偏仪法测量反射光偏振态的变化，以亚纳米精度确定薄膜厚度、光学常数和材料特性。
共聚焦显微镜使用针孔光阑消除离焦光，实现对厚样品的高分辨率光学切片和三维重建。
动态力学分析通过施加振荡应力并记录随温度、频率或时间变化的应变，测量材料的粘弹性性质。
粒度分析使用激光衍射、动态光散射、筛分和沉降等技术测量颗粒材料的尺寸分布。
BET比表面积分析通过在低温条件下进行氮气多层吸附来测量材料的比表面积，为催化剂、吸附剂和纳米材料提供关键数据。
圆二色光谱法测量左旋和右旋圆偏振光的差异吸收，揭示生物分子的二级结构含量和构象变化。
ITC直接测量生物分子结合过程中释放或吸收的热量，在一次实验中即可获得平衡常数、化学计量比、焓和熵。
XPS通过分析X射线照射下发射的光电子的动能，测量表面的元素组成和化学状态。
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