压汞法（MIP）是一种表征固体材料多孔结构的技术。它通过在受控压力下将汞压入孔隙来测量孔径分布、总孔体积、堆密度和比表面积。MIP适用于广泛的多孔材料，包括催化剂、陶瓷、建筑材料、药品和地质样品。

该技术利用汞的非润湿特性，由于其高表面张力和接触角，汞不会自发进入孔隙。需要外部压力将汞压入孔隙。Washburn方程将施加的压力与孔径关联起来。对于圆柱形孔，压入压力与孔径成反比。典型仪器覆盖约3 nm至400 µm的孔径范围，所需压力从真空到60,000 psi或更高。

MIP实验分两个阶段进行。低压分析装填样品室、抽空样品并在近大气压下用汞填充膨胀计，压入约6 µm以上的大孔。高压分析将汞压入更小的孔隙。压入体积记录为施加压力的函数，生成累积压入曲线。

孔径分布由累积压入曲线对压力的导数得出。微分和对数微分图揭示主要孔径和分布宽度。总孔隙率由总压入体积和样品堆体积计算得出。堆密度由膨胀计体积和样品质量确定。骨架密度通过氦比重法测量。

压入和退出曲线之间的滞后现象表明孔隙网络效应。窄颈连接宽体的墨水瓶形孔会截留汞。退出曲线提供关于孔喉尺寸分布的信息。可通过经验模型从MIP数据估算孔隙曲折度和渗透率。

样品制备需要干燥以去除吸附的水分和挥发物而不改变孔结构。样品在真空下脱气。膨胀计玻璃器皿每次测量前需清洁和校准。汞操作需要仔细的安全程序，包括泄漏控制、蒸气监测和妥善处置。

MIP与气体吸附（BET/BJH）和显微镜方法互补。氮气吸附可准确测量50 nm以下的介孔，而MIP覆盖介孔和大孔。SEM提供直接可视化但统计量有限。MIP提供具有统计代表性的批量测量。