Porosimetria por Intrusão de Mercúrio
A porosimetria por intrusão de mercúrio mede a distribuição de tamanho de poros, volume total de poros e porosidade forçando mercúrio em materiais porosos sob pressão controlada crescente.
Advanced instrumentationElipsometria
A elipsometria mede mudanças no estado de polarização da luz refletida para determinar espessura de filmes finos, constantes ópticas e propriedades de materiais com precisão subnanométrica.
Advanced instrumentationMicroscopia Confocal de Varredura a Laser
A microscopia confocal usa uma abertura de pinhole para eliminar a luz fora de foco, permitindo o seccionamento óptico de espécimes espessos com alta resolução e reconstrução tridimensional.
Advanced instrumentationAnálise Mecânica Dinâmica
A análise mecânica dinâmica mede as propriedades viscoelásticas de materiais aplicando tensão oscilatória e registrando a deformação resultante em função da temperatura, frequência ou tempo.
Advanced instrumentationAnálise de Tamanho de Partículas
A análise de tamanho de partículas mede a distribuição de tamanhos de materiais particulados usando técnicas como difração a laser, espalhamento de luz dinâmico, peneiramento e sedimentação.
Advanced instrumentationAnálise de Área Superficial BET
A análise de área superficial BET mede a área superficial específica de materiais por meio da adsorção de nitrogênio em multicamadas a temperaturas criogênicas, fornecendo dados críticos para catalisadores, adsorventes e nanomateriais.
Advanced instrumentationEspectroscopia de Dicroísmo Circular
A espectroscopia de dicroísmo circular mede a absorção diferencial de luz circularmente polarizada à esquerda e à direita, revelando o conteúdo de estrutura secundária e mudanças conformacionais em biomoléculas.
Advanced instrumentationCalorimetria de Titulação Isotérmica (ITC)
A ITC mede diretamente o calor liberado ou absorvido durante a ligação biomolecular, fornecendo a constante de equilíbrio, estequiometria, entalpia e entropia em um único experimento.
Advanced instrumentationEspectroscopia de Fotoelétrons de Raios X (XPS)
O XPS mede a composição elementar e o estado químico de superfícies analisando a energia cinética de fotoelétrons emitidos sob irradiação de raios X.
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