Quecksilber-Porosimetrie
Die Quecksilber-Porosimetrie misst Porengrößenverteilung, Gesamtporenvolumen und Porosität durch Einpressen von Quecksilber in poröse Materialien unter kontrolliert steigendem Druck.
Advanced instrumentationEllipsometrie
Die Ellipsometrie misst Änderungen im Polarisationszustand reflektierten Lichts zur Bestimmung von Dünnschichtdicke, optischen Konstanten und Materialeigenschaften mit sub-Nanometer-Präzision.
Advanced instrumentationKonfokale Laser-Scanning-Mikroskopie
Die konfokale Mikroskopie verwendet eine Lochblende zur Eliminierung von Streulicht außerhalb der Fokusebene und ermöglicht optische Schnitte dicker Proben mit hoher Auflösung und dreidimensionaler Rekonstruktion.
Advanced instrumentationDynamisch-Mechanische Analyse
Die dynamisch-mechanische Analyse misst die viskoelastischen Eigenschaften von Materialien durch Anwendung oszillierender Spannung und Aufzeichnung der resultierenden Dehnung in Abhängigkeit von Temperatur, Frequenz oder Zeit.
Advanced instrumentationPartikelgrößenanalyse
Die Partikelgrößenanalyse misst die Größenverteilung partikulärer Materialien mittels Techniken wie Laserbeugung, dynamischer Lichtstreuung, Siebung und Sedimentation.
Advanced instrumentationBET-Oberflächenanalyse
Die BET-Oberflächenanalyse misst die spezifische Oberfläche von Materialien durch Stickstoff-Mehrschichtadsorption bei kryogenen Temperaturen und liefert kritische Daten für Katalysatoren, Adsorbentien und Nanomaterialien.
Advanced instrumentationZirkulardichroismus-Spektroskopie
Die Zirkulardichroismus-Spektroskopie misst die differentielle Absorption von links- und rechtszirkular polarisiertem Licht und zeigt den Sekundärstrukturgehalt und Konformationsänderungen in Biomolekülen auf.
Advanced instrumentationIsotherme Titrationskalorimetrie (ITC)
ITC misst direkt die bei biomolekularer Bindung freigesetzte oder aufgenommene Wärme und liefert die Gleichgewichtskonstante, Stöchiometrie, Enthalpie und Entropie in einem einzigen Experiment.
Advanced instrumentationRöntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
XPS misst die elementare Zusammensetzung und den chemischen Zustand von Oberflächen durch Analyse der kinetischen Energie von Photoelektronen, die unter Röntgenbestrahlung emittiert werden.
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