Dynamische Lichtstreuung und Zeta-Potential
Die dynamische Lichtstreuung misst Partikelgröße und -verteilung in Lösung durch Analyse der Brownschen Bewegung, während das Zeta-Potential die Oberflächenladung und kolloidale Stabilität quantifiziert.
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Die Rasterkraftmikroskopie verwendet eine scharfe Spitze, die über eine Oberfläche gerastert wird, um topographische und mechanische Eigenschaften mit Nanometerauflösung zu messen, und arbeitet in Luft, Flüssigkeit oder Vakuum.
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Die Transmissionselektronenmikroskopie nutzt einen Elektronenstrahl, der durch eine ultradünne Probe hindurchtritt, um Bilder mit atomarer Auflösung zu erzeugen und innere Struktur, Kristallographie und Zusammensetzung sichtbar zu machen.
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Die Rasterelektronenmikroskopie nutzt einen fokussierten Elektronenstrahl, um hochauflösende Bilder von Probenoberflächen zu erzeugen, die Topographie, Morphologie und Zusammensetzung im Mikro- und Nanomaßstab sichtbar macht.
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